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名称：LED芯片颗粒视觉计数仪 简介：该套仪器通过高速的图像获取及视觉识别处理来鉴别LED芯片的颗粒计数问题。用于LED芯片外延片面积测试，同样适用于Si、Ge、Gap、GaAs、GaAlAs、GaN、四元素等抛光片外延片的面积测试。 性能参数： 1．成像特性　　 镜头：4.5～10mm可变焦、F1.6、1/2”C接口的高保真光学镜头 CMOS规格：500万像素，真彩 像素分辨率：0.045mm 　　 对焦方式：手动对焦；　　 图像观察：具有图像亮度、对比度、饱和度调整功能，调整值自动记忆保存，具有任意放大、缩小、局部观察功能 2．检测性能： 有效视野：30～150mm 　　 软件自动计数功能：可计数芯片二极管数量和红、绿、蓝等各色LED芯片颗粒总数，显示和统计计数结果　　 适用芯片尺寸：4寸以下,透明/不透明LED芯片, 芯片颗粒规格≥5mil (或0.127mm)均可 计数速度：6～20万LED芯片/秒 计数误差≤0.1‰ 最大芯片计数量≥20万pcs