产品详细介绍静态容量法碳酸钙孔径分析仪简介
孔径分析仪由金埃谱科技与兵器系统合作研发，是粉体和纤维材料的孔径分析测试仪器，采用静态容量法测量原理，产品设计遵循国际标准,完全实现制造集成化,功能模块化,操作自动化和智能化。广泛适用于高校及科研院所材料研究和粉体材料生产企业产品质量检测，可用于催化剂材料孔径分析，吸附剂材料孔径分析，金属氧化物孔径分析等
金埃谱科技是国内最早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性最好,并获取上海计量院检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中唯一一家注册资本超百万的生产企业,让您选购的产品无后顾之忧!
静态容量法碳酸钙孔径分析仪性能参数
测试方法及功能:氮吸附真空容量法(真空静态法),吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分析,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,t－plot图法外比表面积测定
测定范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积);0.35nm-400nm(孔径)
测量精度:重复性误差小于1.5%
真空系统:V-Sorb独创的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径分析的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命.
液位控制:V-Sorb独创的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差
控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命.
样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理
压力测量:采用压力分段测量的进口双压力传感器,显著提高低 P/Po点下测试精度,0-1000 Torr(0-133Kpa),0-10 Torr (0-1.33Kpa)
压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15％,优于全量程的0.15％,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10%-15％)
分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10－6－0.995
极限真空:4x10－2Pa (3x10－4Torr)
样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等
测试气体:高纯N2气(99.999%)或其它(按需选择如Ar,Kr)
数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强.
数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表.
静态容量法碳酸钙孔径分析仪适用范围
1) 超微粉体，纳米材料，颗粒及纤维状材料比表面积分析测定；
2) 粉体材料生产及应用企业生产现场产品质量监测；
3) 高校及科研单位材料研究测试，吸附科学及BET理论教学实验；
4) 电池材料，催化剂，添加剂，吸附剂，陶瓷烧结材料，磁性材料，储能材料等相关性能测定；
5) 其它与材料表面性能相关的研究工作。===========================================================================================
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