SOC720SW短波紅外成像光譜儀900~1700nm
|
 |
最后更新：2013-01-05
關 注 度：3109
生產企業：北京安洲科技有限公司
|
|
|
 與企業聯系時請告知該信息來自教育裝備網！ |
|
|
產品詳細介紹
SOC720SW 短波紅外成像光譜儀是一款高質量、高性能的儀器，光譜范圍為900nm～1700nm。
SOC720SW具有高光譜分辨率 (6.25 nm), 輕度光譜失真 (<1.5 nm)成像分光計和高靈敏度的InGaAs 探測器 (D* = 1.5e13 √cm-Hz/W)，使得SOC720SW可以14-bit同時收集640像素、128個波段的光譜信息。這保證了所有應用里，獲得的是最高質量數據。
使用簡單和實時處理
SOC720SW是一個完整的系統，開箱之后即可使用。
系統采用SOC的HyperSpect™ 操作軟件和HSAnalysis™校準和分析工具進行標定和使用前設置。
數據以開放的BIL二進制格式保存，可以兼容第三方分析軟件。無需額外的掃描儀或軟件。
可選的SOC MIDIS™處理器以最優的電腦速度快速執行光譜處理，克服了大部分成像光譜儀在實時數據處理方面的瓶頸。
MIDIS處理器具有多個相關通道同時監測測量數據和三光譜積分，使得MIDIS處理器有能力克服當今數據處理的難題。
配備了一個高質量的成像分光計、標定和分析軟件、高速低噪InGaAs線列和完整的掃描系統，SOC-720SW通過高速Camera-Link接口可以記錄900nm到1700nm光譜范圍內、6.25nm分辨率的高質量光譜成像數據。靈敏度高于1.5x1013cmHz/W（1550nm）。
SOC的HS分析軟件可以用來進行標定和數據分析。記錄的數據格式為開放式的二進制數據，可以很容易的用第三方分析軟件打開，如ENVI軟件。無須數據格式轉換。
技術參數：
光譜范圍： 900-1700 nm
光譜分辨率： 6.25 nm
光譜通道： 128
光譜失真： <1.5 microns (smile)
數字光圈： F/2.4
TFOV/IFOV (35MM)： 10°/0.015625°
分辨率(像素)： 640x640 (nominal)
LINE RATE： 30 Spatial Lines/Second
CUBE RATE： 20 Seconds/Cube
數字分辨率： 14-bit
三腳架： 3/8”-16
計算機接口： Cameral-Link
掃描： 內置
供電： AC/12DV
重量： 30 lbs.
尺寸： 7”x14”x22”
應用領域：
機械視覺
電子學和塑膠
晶片檢查
農業品質
化學過程控制
農業領域
精準農業
土地分類
水份脅迫
作物健康 溫度記錄
火點監測
玻璃檢測
金屬純度
軍事
ISR
邊境安全
導彈跟蹤
醫學領域
血糖分析
X線斷層攝影術
|
|
| 會員級別：免費會員 |
| 加入時間：2010-09-27
|
|
|
在線客服
