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产品型号：EW-ATR
产品代码：
产品价格：
计量单位：台
折 扣 率： 0
最后更新：2017-03-07
关 注 度：4160
生产企业：上海屹持光电技术有限公司
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产品详细介绍产品简介
太赫兹是近年来科研领域一个非常热门的研究方向，太赫兹时域光谱测试技术则是一门新兴的正在蓬勃发展的技术。目前国内外物理学、光学相关领域的科研实验室大多已经装备了太赫兹时域光谱测试设备，进行超材料、半导体材料等的研究。然而太赫兹光谱很具特色的生物大分子识别特性却很少得到真正的实际应用。
Eachwave推出的太赫兹衰减全反射测试�？椋饕攵院慷嗟南赴⒆橹妊罚梢酝üゼ跞瓷涞姆绞讲馐猿鲅范蕴兆炔ㄆ椎奈掌��？梢哉嬲慕兆炔ㄆ椎纳锎蠓肿又肝剖侗鹛匦杂τ糜谏镅返姆治霾馐灾腥ァＨ酶嗳说纳锟蒲杏没Ф嗔艘桓鲂滦偷那慷辛Φ难贩治鲅芯渴侄�。
太赫兹衰减全反射测试，专门用于测试对入射的太赫兹光谱具有强烈吸收的样品。太赫兹波段的衰减全反射�？楹诵牟考且豢楦咦韫瑁℉RSi）棱镜，HRSi在太赫兹波段（0.1-4THz）具有平坦且很高的折射率，在0.1-4THz，HRSi折射率约为3.416。
如下图所示，太赫兹光束经过高折射率的高阻硅(HRSi)棱镜，入射到小折射率的样品上，在样品与高阻硅(HRSi)界面全反射，此过程中，太赫兹(THz)光束会在样品中有一定的穿透深度，即全反射过程中产生的倏逝波会在样品中传播一段距离并最终携带样品的信息反射出来。通过这种方法可以测试对太赫兹波吸收强烈、不能用常规透射或反射方法测试的样品（如生物样品、细胞蛋白质等）。
技术参数
高阻硅折射率
3.416
样品池尺寸 25mm*40mm
样品折射率要求 < 2.5
THz光束入射角度 51.6°
太赫兹衰减全反射测试�？橛糜诳突У腡DS系统中
ATR�？橛τ糜赥DS系统中（THz光束平行，直径约为2cm），
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