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最后更新：2015-01-27
关 注 度：4185
生产企业：天津冠世缘科技发展有限公司
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产品详细介绍1. 设备名称、数量、用途：
1.1 设备名称及数量：X射线衍射仪， 一套
1.2 用途：物相分析、定量分析、结晶化度、晶胞参数、晶粒大小、小角度衍射等。
1.3 设备组成：采用最新工艺设计和制造，包括灯丝三维定位的金属陶瓷X光管、q/q 高精度测角仪、DOPS光学编码，直流马达，高性能半导体二维探测器，控制和分析软件，国内配套电脑、循环冷却水系统。
2. X射线发生器和机柜部分：
2.1. 最大输出功率： 4kW （最大60KV/100mA）
2.2. 最大管压： 60kV，1mV/步, 机柜同步数字显示
2.3. 最大管流： 60mA，1mA/步,机柜同步数字显示
2.4. 电源稳定度(外电源变化10％时)： ￡0.005%
3. 锐影金属陶瓷X光管
3.1. 最大功率: 2.2kW(Cu靶)，其他靶材可选
3.2. 最大管压：60kV
3.3. 最大管流：55mA
3.4. 焦斑： 12x0.4mm，可提供线光束(12x0.04mm)及点光束（1.2x0.4mm）
3.5. 点光束和线光束可自由切换，无需校准。更换光管也无需校准光路
4. 测角仪部份
4.1. 测角仪类型：立式，q/q型
4.2 扫描方式: q/q或q/2q方式
4.3. 角度重现性： +/- 0.0001 度
4.4. 最小可控步长：0.0001 度，可以停止在任何规定角度
4.5. 编码方式：Heidenhain光栅编码解码器，带轨迹追踪 (Path Tracking)技术，直接光学定位。
4.6. 测角仪半径： 240mm
4.7. 马达驱动：直流马达（只提供驱动力，不用于定位）
4.8. 整机重现性：￡0.001°
4.9. 全角度范围内线性度：￡0.01°（全范围内最大角度正偏离与负偏离之差）
5. 基本光学系统
5.1.1. 固定发散狭缝：包 括 4、2、1、1/2、1/4° 五 种 狭 缝
5.1.2. 固定防散射狭缝：包 括 4、2、1、1/2、1/4° 五 种 狭 缝
5.1.3. 索拉(Soller)狭缝：0.04rad
6. 半导体二维阵列探测器，主要性能要求如下：
6.1 计数矩阵数： 365000 pixcel
6.2 像素大小： ￡55mm x55mm
6.3 动态范围： 31x1010cps
6.4 97%线性范围： 2.5 x109cps
6.5 可直接从0°开始扫描测试
6.6 探测器同时具有 0维（点探测器），1维（线阵列探测器模式），2维（面探测器模式），3维（CT探测器模式）工作方式，可直接观测样品德拜环。
7．软件：
7.1 软件为Windows7操作平台，可进行设备控制，数据采集和分析。软件授权安装在5台以上计算机上，并可同时使用。
7.2 多种图形处理方式，至少三种背景确定/扣除方式；至少两种方法剥离Kα2；支持多数据自动背景处理。
7.3 最新拟合技术对原始数据进行自动物相鉴定及打印结果报告，RIR参考强度法直接给出半定量结果；3维图形显示功能。
7.4 能进行全谱线形分析计算，晶粒尺寸和微应力计算。
7.5 能对100个以上数据自动进行差异和归类分析，给出分析报告，能支持其他仪器数据类型。
7.6 最新粉末数据库和单晶数据库。 |
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| 会员级别：免费会员 |
| 加入时间：2015-01-27
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