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产品型号：CEM3000
产品代码：
产品价格：
折 扣 率： 0
最后更新：2025-02-24
关 注 度：2875
生产企业：深圳市中图仪器股份有限公司
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产品详细介绍CEM3000台式扫描电镜用于对样品进行微观尺度形貌观测和分析。标配有高性能二次电子探头和多象限背散射探头、并可选配能谱仪、低真空系统，能满足用户对多类型样品的观测需求，实现微观的形貌和元素分析等。
核心优势
1、紧凑灵活，突破空间限制
（1）台式设计，体积小巧，轻松摆放在桌面或狭小空间（如手套箱、移动实验室），节省实验室空间。
（2）支持快速移机，一台设备满足多场景需求，助力科研效率提升。
2、高性能，纳米级分辨率
（1）空间分辨率优于4nm（SE），支持高达200,000倍放大，精准捕捉纳米材料、微流控芯片等样品的微观形貌。
（2）高衬度成像系统，快速扫描也能清晰呈现微弱信号，满足材料科学、生命科学等领域的需求。
3、抗振防磁，稳定无惧挑战
（1）特殊隔振设计（CEM3000B搭载复合抗振系统），消除环境振动与电磁干扰，保障高倍成像质量。
（2）适用于工业车间、车载实验室等复杂环境，稳定可靠。
4、高效便捷，一键智能操作
（1）快速抽放气技术：低真空模式仅需40秒（CEM3000B），高真空模式最快1.5分钟，大幅缩短等待时间。
（2）自动对焦、消像散、图像增强功能，一键生成高质量图片，降低操作门槛。
5、灵活拓展，满足多样需求
（1）可选配低真空系统（5~100Pa），兼容导电/非导电样品观测。
（2）CEM3000台式扫描电镜支持二次电子、背散射电子探头及能谱仪，搭配颗粒统计、孔隙率测量等定制功能，满足多领域分析需求。
应用场景
材料科学：纳米材料（如60nm银线）、高熵合金粉末、氧化锌等微观结构分析。
新能源：太阳能电池板缺陷检测、涂层性能评估。
生物医疗：微流控芯片表面形貌观测、药物载体研究。
工业质检：锡球颗粒焊接质量、精密器件表面粗糙度检测。
机型选择
CEM3000A（大样品仓型）：70mm×70mm样品仓，兼容大尺寸或多样品批量分析。
CEM3000B（抗振型）：专为振动环境设计，抽气更快（低真空仅40秒），成像更稳定。
恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。
如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。 |
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| 加入时间：2017-08-09
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