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产品型号：Namicro-III 型
产品代码：
产品价格：
折 扣 率： 0
最后更新：2014-07-04
关 注 度：2355
生产企业：武汉嘉仪通科技有限公司
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产品详细介绍 武汉嘉仪通科技有限公司是主要从事高端新材料分析仪器研发、生产、销售为一体的高技术企业。公司长期专注于新材料分析和检测领域，有一整套成熟的分析、检测方案，坚持以技术创新为客户不断创造价值。
本公司研发的Namicro-III 型热电参数测试系统采用准动态法（具有专利技术）和四探针法分别测量样品的塞贝克系数和电阻率。
1、动态法测量塞贝克系数，避免了传统静态测量法在温差测量方面的系统误差，测量更准确。
2、电阻率测量和塞贝克系数测量不共用电压探针，避免出现微型热电偶断裂失效的问题。
3、软件界面友好，操作方便，高度自动化。既可以全自动测量，也支持半自动和手动采集测量，全自动测试时，只需设置起始温度、终了温度以及测试步长三个值即可，温度曲线设置大为简化。
技术参数
温度范围 RT~ 800 ℃
温控方式 PID 程序控制
真空度 1~50 Pa
测试气氛 真空
测量范围 塞贝克系数： S ≥ 8 μV/K；
电阻率：0.1 μΩm ~ 100 kμΩ·m
分辨率 塞贝克系数：0.05μV/K；
电阻率： 0.05 μΩ·m
相对误差精度 塞贝克系数≤ 6%；
电阻率≤ 5%
样品尺寸 1) 块体样品： 长条形，长×宽：( 2~5)× (2~5)mm ； 高度：12~ 18mm
2) 薄膜样品： 长方形，长≥23mm 宽≥28 mm
———— 武汉嘉仪通科技 |
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| 会员级别：免费会员 |
| 加入时间：2014-01-03
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