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項(xiàng)目
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Solver P47 優(yōu)點(diǎn)
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操作模式
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1.合理的操作模式：
a. 擴(kuò)展電阻成像：這個(gè)模式在表征半導(dǎo)體的應(yīng)用中非常有用，因?yàn)樵谠撃Ｊ较拢覀兛梢岳肳2C 或TiO涂層的硅懸臂來測得樣品上某一點(diǎn)的導(dǎo)電率，然后和該點(diǎn)的表明形貌進(jìn)行比較。
b. 粘附力模式：在掃描過程中，可以同時(shí)得到力－距離曲線和力的值。
c. 剪切力模式：可以用來實(shí)現(xiàn)SNOW系統(tǒng)。
d. SKM對(duì)半導(dǎo)體表面成分分析十分有用。
e. RM和電壓刻蝕：利用這兩個(gè)模式可以在納米尺度實(shí)現(xiàn)機(jī)械和電壓表面修飾。
2.集成測量頭
在一次掃描過程中，可以同時(shí)得到4種不同的信息。
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掃描器
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NT-MDT提供一套用于校正的標(biāo)準(zhǔn)光柵(6片)，用其進(jìn)行掃描器的校正和針尖質(zhì)量的控制。。
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樣品大小
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大樣品也可以進(jìn)行測量。
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光學(xué)觀測系統(tǒng)
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多樣的光學(xué)觀測系統(tǒng)配置可以完全滿足客戶的需求。
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針尖與樣品的驅(qū)近
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1. 驅(qū)近系統(tǒng)的機(jī)械設(shè)計(jì)可使得經(jīng)過幾次驅(qū)近之后仍然能獲得相同的檢測區(qū)域。掃描位移大約為500nm，這個(gè)特點(diǎn)可以讓您在幾周內(nèi)仍然能夠研究相同的樣品區(qū)域。
2. 在完成驅(qū)近之后，可以對(duì)所要檢測的區(qū)域進(jìn)行自動(dòng)掃描，因此實(shí)驗(yàn)人員只需很短的時(shí)間便可以在SPM上獲得檢測結(jié)果。
3. 允許手動(dòng)驅(qū)近。
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電子學(xué)
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每個(gè)軸(X,Y和Z)通過2個(gè)16位DAC來實(shí)現(xiàn)22位的掃描精度，再加上極低的系統(tǒng)噪音，所以Solver使用50mm的掃描器也能實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率。
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計(jì)算機(jī)
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我們的顯微鏡可以在任何兼容計(jì)算機(jī)機(jī)上進(jìn)行操作。如果您不想購買額外的計(jì)算機(jī)，那么您還可以將這臺(tái)用于SPM的計(jì)算機(jī)用于其他用途。
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軟件
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多樣的圖像處理方法；
圖像處理軟件可以免費(fèi)在http://www.ntmdt.ru網(wǎng)站上下載；
可以處理DI,PSI, Topometrix和其他SPM廠家的數(shù)據(jù)文件樣本；
可以根據(jù)用戶需要來定制軟件。
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隔震系統(tǒng)
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在通常的實(shí)驗(yàn)室中，不需要增加額外的隔震系統(tǒng)(在通常的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下就可以得到原子級(jí)圖像)。
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其他優(yōu)點(diǎn)
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鈦合金結(jié)構(gòu)和獨(dú)特的SPM測量系統(tǒng)設(shè)計(jì)提供了最低的熱漂移，讓您可以打開系統(tǒng)之后馬上就可以開始測量了。
在這方面，NT-MDT盡全力滿足客戶的期望。
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